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納米技術(shù) 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環(huán)形暗場法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 34831-2017
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
起草單位： 國家納米科學(xué)中心
發(fā)布日期： 2017-11-01
實施日期： 2018-05-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2018年05月28日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用電子顯微鏡高角環(huán)形暗場成像技術(shù)對貴金屬納米顆粒成像的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于單一貴金屬納米顆粒和復(fù)合材料中貴金屬納米顆粒的成像。
　　

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