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晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 37983-2019
替代情況:
發(fā)布單位: 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 陜西省分析測(cè)試協(xié)會(huì)、西北工業(yè)大學(xué)、西安理工大學(xué)、西安交通大學(xué)
發(fā)布日期: 2019-08-30
實(shí)施日期: 2020-03-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2019年12月30日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用X射線衍射儀,在測(cè)試中對(duì)樣品進(jìn)行旋轉(zhuǎn),從而確定晶體材料取向的測(cè)試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶體材料取向的測(cè)試。

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