本標(biāo)準(zhǔn)描述了紅外硫系光學(xué)薄膜（以下簡(jiǎn)稱“薄膜”）折射率的測(cè)試原理、測(cè)試條件、儀器設(shè)備、樣品、測(cè)試步驟、數(shù)據(jù)處理與折射率計(jì)算、計(jì)算精度和測(cè)試報(bào)告。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于紅外硫系光學(xué)薄膜折射率的測(cè)試，其他光學(xué)薄膜折射率的測(cè)試可參照使用。