本文件描述了多壁碳納米管（MWCNTs）介觀形狀因子的表征方法。所采用的表征技術(shù)包括掃描電子顯微術(shù)（SEM）、透射電子顯微術(shù)（TEM）、黏度法和光散射法等。
本文件還包括用于界定靜態(tài)彎曲持續(xù)長度（SBPL）表征的附加條款，給出了用于評價SBPL的測量方法，其長度通常處于幾十納米至幾百微米之間。
本文件借鑒高分子物理中的概念和數(shù)學(xué)表達(dá)式來定義MWCNTs的介觀形狀因子。