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環(huán)境試驗 試驗方法編寫導(dǎo)則 術(shù)語和定義

標 準 號: GB/T 2422-2012
替代情況: 替代 GB/T 2422-1995
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會
起草單位: 中國電器科學(xué)研究院有限公司、信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標準化研究所、信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所
發(fā)布日期: 2012-11-05
實施日期: 2013-02-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2013年07月03日
內(nèi)容摘要

本標準給出了電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗中使用的術(shù)語及其定義,如:元件、分組件、組件和裝置。環(huán)境條件包括:沖擊,振動,氣候(溫度、濕度和氣壓),密封(防止固體、液體、氣體浸入或維持壓差),焊接熱(包括焊接產(chǎn)生的熱沖擊)。
本標準沒有涉及著火危險試驗的有關(guān)術(shù)語,其相關(guān)術(shù)語在GB/T5169標準中列出。沒有考慮如下條件:太陽輻射,長霉,腐蝕,引出端強度,標記的耐久性,塵,沙和降水,核輻射,聲振。

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