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環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J和導(dǎo)則:長(zhǎng)霉

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 2423.16-2022
發(fā)布單位: 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 中國(guó)電器科學(xué)研究院股份有限公司等
發(fā)布日期: 2022-07-11
實(shí)施日期: 2023-02-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2022年09月21日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了確定電工電子產(chǎn)品上長(zhǎng)霉程度和長(zhǎng)霉對(duì)產(chǎn)品性能及其他相關(guān)特性影響的試驗(yàn)方法。
由于長(zhǎng)霉條件包含高相對(duì)濕度,本標(biāo)準(zhǔn)適用于在潮濕環(huán)境下貯存、運(yùn)輸以及使用一段時(shí)間的電工電子產(chǎn)品。

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