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靜電復印光導體表面缺陷測量方法

標 準 號： JB/T 8268-2015
替代情況：
發(fā)布單位： 工業(yè)和信息化部
起草單位： 天津復印技術(shù)研究所等
發(fā)布日期： 2015-04-30
實施日期： 2015-10-01
點 擊 數(shù)：
更新日期： 2019年02月10日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了靜電復印光導體表面缺陷的測量條件、測量方法及測量報告的要求。本標準適用于靜電復印（打印、傳真、多功能）設備用的光導體的外觀質(zhì)量及背景印跡的測量。

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