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磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 4956-2003
替代情況：
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
起草單位： 武漢材料保護(hù)研究所
發(fā)布日期： 2004-05-01
實(shí)施日期： 2004-05-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2019年12月12日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用磁性測(cè)厚儀無損測(cè)量磁性基體金屬上非磁性覆蓋層（包括釉瓷和搪瓷層）厚度的方法。本方法僅適用于在適當(dāng)平整的試樣上的測(cè)量。非磁性基體上的鎳覆蓋厚度測(cè)量優(yōu)先采用GB/T 13744規(guī)定的方法。

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