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光柵式測微儀校準規(guī)范

標 準 號: JJF 1682-2017
替代情況: 替代 JJG 989-2004
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局
起草單位: 中國科學院光電技術研究所、中國測試技術研究院
發(fā)布日期: 2017-11-20
實施日期: 2018-05-20
點 擊 數:
更新日期: 2023年05月06日
內容摘要

本規(guī)范適用于0.1 μm級行程為0~10 mm、0.2 μm級行程為0~25 mm、0.5 μm級行程為0~50 mm、1 μm級~10 μm級行程為0~100 mm的光柵式測微儀校準。

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