本文件規(guī)定了中子衍射測(cè)量多晶材料殘余應(yīng)力的方法。本文件適用于均勻、非均勻以及含不同晶相的材料樣品檢測(cè)。
本文件簡(jiǎn)要描述了中子衍射技術(shù)的原理，提供了以下建議：
——針對(duì)不同種類材料宜開(kāi)展的測(cè)量中合適的衍射晶面選擇；
——在宜進(jìn)行的測(cè)量中樣品方向的選取；
——與被測(cè)材料晶粒尺寸和應(yīng)力狀態(tài)有關(guān)的待測(cè)體積選擇。
本文件規(guī)定了準(zhǔn)確定位和校正中子束內(nèi)檢測(cè)部位的過(guò)程，以及測(cè)量時(shí)準(zhǔn)確定義材料取樣體積的過(guò)程。
本文件規(guī)定了標(biāo)定中子衍射裝置的注意事項(xiàng)，規(guī)定了獲取無(wú)應(yīng)力參考值的技術(shù)方法。
本文件規(guī)定了開(kāi)展中子衍射測(cè)量的各種方法，提供了分析結(jié)果和確定其統(tǒng)計(jì)相關(guān)性的過(guò)程，提供了由應(yīng)變測(cè)量數(shù)據(jù)確定殘余應(yīng)力可靠估算值以及評(píng)定結(jié)果中不確定度的建議。