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電磁屏蔽用導(dǎo)電粉體體積電阻率測(cè)試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): JB/T 13537-2018
替代情況:
發(fā)布單位: 工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國(guó)兵器工業(yè)集團(tuán)第五三研究所
發(fā)布日期: 2018-07-04
實(shí)施日期: 2019-05-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2024年05月06日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電磁屏蔽用導(dǎo)電粉體體積電阻率測(cè)試儀器設(shè)備、測(cè)試環(huán)境要求、測(cè)試步驟、數(shù)據(jù)處理。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于體積電阻率1.0μΩ?cm~2.0kΩ?cm、粉體平均粒徑小于250μm的電磁屏蔽用導(dǎo)電粉體體積電阻率的測(cè)定。

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