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冰晶石化學(xué)分析方法和物理性能測定方法 第15部分:X射線熒光光譜分析(壓片)法測定元素含量

標(biāo) 準(zhǔn) 號: YS/T 273.15-2012
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國工業(yè)和信息化部
起草單位: 多氟多化工股份有限公司、中國鋁業(yè)股份有限公司河南分公司、新疆眾和股份有限公司
發(fā)布日期: 2012-12-28
實施日期: 2013-06-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2017年03月01日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了X射線熒光光譜(壓片)法測定冰晶石中氟、鋁、鈉、硅、鐵、硫、磷、鈣(分別以F、Al、Na、SiO2、Fe2O3、SO42-、P2O5、CaO表示)等元素的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于冰晶石中氟、鋁、鈉、硅、鐵、硫、磷、鈣等元素的測定。

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