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微電子技術(shù)用貴金屬漿料測(cè)試方法 細(xì)度測(cè)定

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 17473.2-2008
發(fā)布單位： 中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 貴研鉑業(yè)股份有限公司
發(fā)布日期： 2008-03-31
實(shí)施日期： 2008-09-01
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更新日期： 2020年11月06日
內(nèi)容摘要

本部分規(guī)定了微電子技術(shù)用貴金屬漿料細(xì)度的刮板測(cè)定方法。
本部分適用于微電子技術(shù)用貴金屬漿料細(xì)度測(cè)定。

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