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多晶硅表面金屬雜質含量測定 酸浸取-電感耦合等離子體質譜法

標 準 號: GB/T 24582-2023
替代情況: 替代 GB/T 24582-2009
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位: 陜西有色天宏瑞科硅材料有限責任公司、洛陽中硅高科技有限公司、新疆新特新能材料檢測中心有限公司等
發(fā)布日期: 2023-08-06
實施日期: 2024-03-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2023年09月19日
內容摘要

本文件描述了用酸從多晶硅表面浸取金屬雜質,并用電感耦合等離子質譜儀定量檢測多晶硅表面金屬雜質含量的方法。本文件適用于太陽能級多晶硅和電子級多晶硅表面堿金屬、堿土金屬和第一系列過渡元素如鈉、鉀、鈣、鐵、鎳、銅、鋅、鋁等雜質元素含量的測定,測定范圍為0.01 ng/g。

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