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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 溫度變化試驗導則

標 準 號: GB/T 2424.13-2002
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
起草單位: 環(huán)標委第四工作組
發(fā)布日期: 2002-06-13
實施日期: 2003-01-01
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更新日期: 2012年04月12日
內(nèi)容摘要

GB/T 2424的本部分等同采用IEC 60068-2-33:1971《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 溫度變化試驗導則》(英文版)及其修正件1:1978。修正件見50B(中央辦公室)197號文。本導則推薦給有關設計和試驗人員在應用溫度變化試驗規(guī)范時提供指導。溫度變化試驗的目的在于確定溫度變化或連續(xù)溫度變化對試驗樣品的影響。本導則不適用于僅僅是考核高溫和低溫的影響作用。對這些作用,要使用高溫或低溫試驗。溫度變化試驗的作用決定于:——溫變條件試驗的高溫和低溫溫度值;——試驗樣品保持在這些溫度條件中的試驗時間;——由高到低(或由低到高)溫度間的變化速率;——條件試驗的循環(huán)次數(shù);——試驗樣品輸入或輸出的總熱量。

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