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電工電子產(chǎn)品成熟度試驗(yàn)方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): GB/T 37143-2018
替代情況:
發(fā)布單位: 國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位: 北京航空航天大學(xué)、蘇州廣博力學(xué)環(huán)境實(shí)驗(yàn)室有限公司、工業(yè)和信息化部電子第五研究所
發(fā)布日期: 2018-12-28
實(shí)施日期: 2019-07-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2019年04月10日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電工電子產(chǎn)品成熟度試驗(yàn)的一般性描述、激發(fā)應(yīng)力的確定、試驗(yàn)裝置要求以及具體實(shí)施方法、故障的處理方法及成熟度評(píng)價(jià)方法等內(nèi)容。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于為提高與評(píng)價(jià)電工電子產(chǎn)品成熟度而開展的環(huán)境應(yīng)力試驗(yàn)。

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