本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子封裝用球形二氧化硅微粉中α態(tài)晶體二氧化硅含量的XRD測(cè)試方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子封裝用球形二氧化硅微粉中檢測(cè)α態(tài)晶體二氧化硅含量，其它無定形二氧化硅含量的檢測(cè)也可參照本標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。α態(tài)晶體二氧化硅含量測(cè)試范圍0.5%以下半定量分析，0.5%-5%定量分析。