本部分的目的是測定在規(guī)定頻率范圍內(nèi)，振動對器件的影響。本試驗是破壞性試驗，通常用于有空腔的器件。?本試驗與GB/T 2423.10-2008基本一致，但鑒于半導(dǎo)體器件的特殊要求，采用本部分的條款。