本部分為ＧＢ／Ｔ１５９７２的第４５部分。本部分代替ＧＢ／Ｔ１５９７２．４—１９９８《光纖總規(guī)范　第４部分：傳輸特性和光學(xué)特性試驗方法》第１１章。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光纖模場直徑的試驗方法，確立了對試驗裝置、注入條件、程序、計算方法和結(jié)果的統(tǒng)一要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對B類單模光纖模場直徑的測量和成品光纖光纜的商業(yè)性檢驗。本部分與ＧＢ／Ｔ１５９７２．４—１９９８第１１章相比主要變化如下：
———正文中對試驗方法的詳細(xì)描述分別用附錄的形式給出（１９９８年版的１１．２、１１．３、１１．４，本版的附錄Ａ、附錄Ｂ、附錄Ｃ）；
———增加了替代試驗方法Ｄ（本版的附錄Ｄ）；
———修改了光纖遠(yuǎn)場分布和近場分布的計算細(xì)節(jié)（１９９８年版的１１．１．２，本版的附錄Ａ、附錄Ｃ）；
———糾正了某些不恰當(dāng)?shù)臄⑹觥?/p>