本部分為GB/T 15972的第34部分，本部分代替GB/T 15972.3-1998《光纖總規(guī)范　第３部分：機械性能試驗方法》第18章、第19章。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了測量未涂覆光纖翹曲或固有曲率半徑的試驗方法，確立了測量的統(tǒng)一試驗程序和技術(shù)要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對A1、A2、A3類多模光纖和B類單模光纖的測量。
本部分與GB/T 15972.3-1998第18章、19章相比主要變化如下：
———原正文中的兩種試驗方法詳細描述分別用附錄Ａ 和附錄Ｂ 的形式給出（１９９８ 年版的１８ 章、１９章，本版的附錄Ａ、附錄Ｂ）；
———旋轉(zhuǎn)光纖的步幅由原來的10°～15°改為10°～20°（１９９８ 年版的１８．４．２，本版的６．２、Ａ．３．２、Ｂ．３．２）；　
———刪除了式（Ｂ．１）推導(dǎo)的附錄（１９９８年版的附錄Ｄ，式（２４）的推導(dǎo)）；
———試驗標(biāo)準(zhǔn)大氣條件改為：溫度２３℃±５℃；相對濕度４５％±２５％（見本版的３章）。