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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了被試?yán)w維光學(xué)器件回波損耗測(cè)量程序。通過(guò)采用低光學(xué)相干干涉方法以微米級(jí)的空間分辨率和高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量單模光器件的反射分布。通過(guò)采用光頻域反射方法,以厘米級(jí)的空間分辨率和高動(dòng)態(tài)范圍測(cè)量單模光器件的回波損耗。