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光端機(jī)技術(shù)指標(biāo)測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號: YD/T 730-1994
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國郵電部
起草單位: 郵電部武漢郵電科學(xué)研究院
發(fā)布日期: 1994-07-20
實(shí)施日期: 1995-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù):
更新日期: 2022年05月19日
內(nèi)容摘要

主題內(nèi)容與適用范圍:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光端機(jī)電接口和光接口指標(biāo)的測試方法。包括電接口允許比特率容差、輸入抖動容限、無輸入抖動時的最大輸出抖動、抖動轉(zhuǎn)移特性、反射衰減、輸出波形、輸入抗干擾性能和過壓保護(hù)性能的測方法,以及平均發(fā)送光功率、接收機(jī)靈敏度和動態(tài)范圍、平均誤比特率的測試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于2048kbit/s、8448kbit/s、34368kbit/s、139264kbit/s光端機(jī)電接口和光接口指標(biāo)的測試。

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