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半導(dǎo)體集成電路 直接數(shù)字頻率合成器測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： GB/T 42848-2023
替代情況：
發(fā)布單位： 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
起草單位： 成都振芯科技股份有限公司、中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
發(fā)布日期： 2023-08-06
實(shí)施日期： 2023-12-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2023年09月06日
內(nèi)容摘要

本文件規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路中直接數(shù)字頻率合成器電特性的通用測試方法。
本文件適用于單通道及多通道直接數(shù)字頻率合成器電路的測試。

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