本文件描述了運用直流或低掃場速率磁強計方法測量Cu/Nb-Ti多絲復合材料磁滯損耗的相關事宜。本文件規(guī)定了Cu/Nb-Ti多絲復合導體中磁滯損耗的一種測量方法。測量在溫度為4.2 K或接近于4.2 K的圓形截面超導線上進行。直流或低掃場速率磁強計法使用的是超導量子干涉器件（SQUID）磁強計（見附錄A）或振動樣品磁強計（VSM）。如果測量中發(fā)現(xiàn)用不同的（但均校準過的）磁強計所得的結(jié)果存在差異，則以外推至零掃場速率下的VSM測量結(jié)果為準。將本測量方法推廣到一般超導體的規(guī)范詳見附錄B。