3 解決污閃問題的思路

　　解決污閃問題主要是重新認(rèn)識污穢絕緣設(shè)計。

　　3．1 按爬電比距確定絕緣子串片數(shù)所存在的問題.

　　目前，各國均按污穢水平劃分污級，并規(guī)定各污級對應(yīng)的爬電比距，僅前蘇聯(lián)和我國按爬電比距的方法確定絕緣子串片數(shù)。前蘇聯(lián)與我國的設(shè)計又不同，不僅系統(tǒng)地考慮了爬電比距有效系數(shù)(一般取1.1-1.2)，還規(guī)定了不同污穢等級下50％人工污穢耐受電壓值，即220 kV及以下電壓等級為對應(yīng)額定電壓值，330 kV和500 kV分別規(guī)定為315 kV和410 kV，僅按GB／T16434-1996來進(jìn)行外絕緣設(shè)計，與前蘇聯(lián)相比無疑偏低。

　　3.2 按污耐壓確定絕緣子串片數(shù)所存在的問題

　　美國、日本和我國武漢高壓研究所等主要是以污耐壓進(jìn)行外絕緣設(shè)計，污耐壓皆以長串真型試驗來確定。不同國家污穢絕緣設(shè)計原則相同，僅是設(shè)計參數(shù)取值不同，見表1。由文獻(xiàn)[1]知，絕緣子串片數(shù)N為污穢設(shè)計目標(biāo)電壓值UΦmax與單片絕緣子最大耐受電壓Umax的比值，而單片絕緣子最大耐受電壓Umax是σ、k的函數(shù)，σ、k越大，Umax越小，N越小，反之N越大。σ、k取定值后，按系統(tǒng)重要性考慮的修正系數(shù)k1，越大，N越大，即絕緣子串的污穢裕度越大。σ值一般由50％人工污穢耐受電壓試驗確定。由表1可知，不同國家污穢絕緣設(shè)計參數(shù)取值不同。σ值不同主要是由不同污穢試驗室等價性造成，而k值主要由線路設(shè)計閃絡(luò)概率戶值確定。若單串閃絡(luò)概率戶取值偏高，無疑k偏低，Umax偏高；若k1取值偏低，則UΦmax偏低，若p和k1值同時偏低，則N偏低。而我國p、k1取值相對前蘇聯(lián)、美國和日本而言皆偏低，可見N值較小，絕緣子串的絕緣配置偏低，或者說裕度偏小。隨著大環(huán)境的污染，若污穢等級從I級(0.025 mg／平方厘米)發(fā)展到Ⅲ級(0.1 mg／平方厘米)，不同型式絕緣子的Umax值下降幅度可達(dá)32.2％-44.0％。XP-160型絕緣子長串真型試驗結(jié)果表明，I級(0.03 mg／平方厘米)Umax值(11.81 kV)相對于Ⅲ級(0.1 mg／平方厘米)Umax值(8.36 kV)下降幅度為29.2％，無疑絕緣子串片數(shù)相應(yīng)會增加31.1％-22.7％或34.2％，受桿塔高度限制，必然無法調(diào)爬，應(yīng)在設(shè)計基建時將裕度留給運(yùn)行部門。

　　3．3 推薦污穢絕緣設(shè)計方案

　　3．3．1 爬電比距法

　　建議對單片絕緣子的爬電距離進(jìn)行爬電比距有效系數(shù)修正，規(guī)定不同電壓等級下的污耐壓水平。

　　3．3．2 污耐壓法

　　建議修訂GB／T16434-1996時增加單絕緣子串的閃絡(luò)概率戶(戶取值0.0135％)，K值取3；輸電線路絕緣子污穢設(shè)計時口值取為7％或由試驗數(shù)據(jù)確定；污穢設(shè)計目標(biāo)電壓值UΦmax按系統(tǒng)的重要性考慮的修正系數(shù)k1，取1.10-1.3，對重要輸電線路k1取1.6，對核電站出線等重要線路k1取1.732；對不同電壓等級輸電線路應(yīng)規(guī)定絕緣子串最少片數(shù)，如500 kV輸電線路推薦懸垂串最少片數(shù)為30-32片。

　　4解決污閃的對策

　　4．1 重新劃分污區(qū)分布圖

　　建議鹽密測量圖中的鹽密值為輸變電戶外設(shè)備外絕緣在長年(一般為3-5年)測得的連續(xù)積污鹽密的最大值(預(yù)期等值附鹽密度)；在鹽密測量圖中應(yīng)標(biāo)出其他型式絕緣子之間的等值附鹽密度的修正系數(shù)；污濕特征的描述應(yīng)定量化，并引人大氣質(zhì)量指數(shù)的概念。