電場(chǎng)分布法

??? 復(fù)合絕緣子存在著多種界面，目前認(rèn)為，因復(fù)合絕緣子金屬端頭處密封不良，潮氣進(jìn)入內(nèi)部，導(dǎo)致沿著芯棒與護(hù)套的界面或芯棒內(nèi)部缺陷發(fā)展的電致碳痕是復(fù)合絕緣子最容易發(fā)生也是最危險(xiǎn)的故障。陡波試驗(yàn)可以檢測(cè)復(fù)合絕緣子的內(nèi)絕緣缺陷，但該方法無法實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)在線檢測(cè)。電場(chǎng)分布法可在線檢測(cè)復(fù)合絕緣子的內(nèi)絕緣缺陷，且該方法所用儀器較為簡單，對(duì)天氣等外界環(huán)境要求甚低。運(yùn)行中的復(fù)合絕緣子，正常狀態(tài)下電場(chǎng)強(qiáng)度和電勢(shì)沿絕緣子軸向的變化曲線是光滑的。當(dāng)絕緣子存在導(dǎo)通性缺陷時(shí)，該處電位變?yōu)橐怀?shù)，故其電場(chǎng)強(qiáng)度將突然降低，電場(chǎng)分布曲線也不再光滑，而是在相應(yīng)的位置上有畸變，中間下陷，兩端上升。因此測(cè)量復(fù)合絕緣子串的軸向電場(chǎng)分布可找出絕緣子的內(nèi)絕緣導(dǎo)通性故障。

憎水性檢測(cè)方法

??? 目前，適用于現(xiàn)場(chǎng)的憎水性測(cè)量方法主要是瑞典輸電研究所提出的噴水分級(jí)法。該方法將復(fù)合絕緣子表面的憎水性分為7級(jí)并給出分級(jí)判據(jù)和標(biāo)準(zhǔn)圖片，HC-1級(jí)和HC-7級(jí)分別對(duì)應(yīng)憎水性最強(qiáng)和最差(即 完全親水)的狀態(tài)。試驗(yàn)中，用普通噴壺對(duì)試品表面噴灑水霧，觀察水分在試品表面的分布情況，對(duì)比分級(jí)判據(jù)和標(biāo)準(zhǔn)圖片，得出絕緣子表面的憎水性狀況。噴水分級(jí)法的缺陷是對(duì)人的主觀判斷依賴性較大。近年來，數(shù)碼攝像技術(shù)和計(jì)算機(jī)數(shù)字圖像處理技術(shù)的發(fā)展為人們更為客觀和精確地評(píng)價(jià)復(fù)合絕緣子表面的憎水性提供了一條新的道路。瑞典的研究人員對(duì)人工模擬老化的復(fù)合絕緣子試樣通過噴水分級(jí)法測(cè)量憎水性等級(jí)，同時(shí)拍攝噴水后絕緣子表面的數(shù)字灰度圖像。利用計(jì)算機(jī)圖像處理技術(shù)從大量數(shù)字灰度圖像中提取出一個(gè)函數(shù)值和HC等級(jí)呈單調(diào)關(guān)系的數(shù)學(xué)函數(shù)(命 名為憎水性指示函數(shù)), 從而通過憎水性指示函數(shù)來得出絕緣子的憎水等級(jí)。但該研究僅停留在實(shí)驗(yàn)室階段，缺乏對(duì)復(fù)雜情況下復(fù)雜表面的分析；雖然對(duì)現(xiàn)場(chǎng)在線測(cè)試做了可行性預(yù)測(cè)，但并沒有付諸實(shí)施。目前,華 北電力大學(xué)(北 京)高電壓與電磁兼容研究所正在從事基于噴水分級(jí)法和數(shù)字圖象處理技術(shù)的復(fù)合絕緣子表面憎水性在線檢測(cè)方法的研究并已取得階段性成果，全部項(xiàng)目預(yù)計(jì)在2005年第一季度完成。

泄漏電流測(cè)量法

??? 泄漏電流測(cè)量法是利用泄漏電流沿面形成的原理，在絕緣子接地側(cè)通過引流卡或電流傳感器，在線實(shí)時(shí)測(cè)量泄漏電流，利用信號(hào)處理單元計(jì)算出一段時(shí)間內(nèi)泄漏電流的各種統(tǒng)計(jì)值(如 峰值平均值、峰值最大值或大電流脈沖數(shù)), 通過無線傳輸與有線傳輸相結(jié)合，將數(shù)據(jù)傳輸?shù)綌?shù)據(jù)總站，運(yùn)用專家知識(shí)和自學(xué)習(xí)算法對(duì)上述三種知識(shí)進(jìn)行綜合分析，對(duì)絕緣子的積污狀況作出評(píng)估和預(yù)測(cè)，并為實(shí)現(xiàn)狀態(tài)檢修提供科學(xué)依據(jù)。對(duì)于復(fù)合絕緣子，由于其特有的憎水性及憎水遷移性，使得絕緣子受潮時(shí)，在任何一個(gè)瞬間能夠參與導(dǎo)電的只是全部污穢中已經(jīng)溶解而未流失的那部分，稱為“有效污穢”。因此，復(fù)合絕緣子的沿面泄漏電流與有效污穢度有關(guān)，同時(shí)與憎水性也有關(guān)系。另外，絕緣子的泄漏電流與電壓等級(jí)、絕緣子型號(hào)、絕緣子片數(shù)、環(huán)境溫度、濕度等因素也有關(guān)系。該方法的研究和應(yīng)用目前尚存在較大的爭議。