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半導(dǎo)體集成電路ECL電路測(cè)試方法的基本原理

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： SJ/T 10737-1996
替代情況： 替代 GB 3441-82
發(fā)布單位： 國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
起草單位：
發(fā)布日期： 1996-11-20
實(shí)施日期： 1997-01-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2024年08月19日
內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路ECL電路（以下簡(jiǎn)稱(chēng)器件）靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試方法的基本原理。


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