本標(biāo)準(zhǔn)適用于ＰＯＳＩＸ 標(biāo)準(zhǔn)符合性測試方法的開發(fā)和使用，也適用于其他應(yīng)用編程接口規(guī)范的開發(fā)和使用。 本標(biāo)準(zhǔn)旨在供測試方法規(guī)范和測試方法實施的開發(fā)者和使用者使用。本標(biāo)準(zhǔn)代替ＧＢ／Ｔ１７５４８—１９９８，與１９９８版標(biāo)準(zhǔn)相比，本標(biāo)準(zhǔn)發(fā)生了如下的主要變化：
———標(biāo)準(zhǔn)名稱改為“ＰＯＳＩＸ 標(biāo)準(zhǔn)符合性的測試方法規(guī)范和測試方法實現(xiàn)的要求和指南”；
———引用標(biāo)準(zhǔn)中由軟件工程術(shù)語國家標(biāo)準(zhǔn)ＧＢ／Ｔ１１４５７—２００６代替了原文中的ＩＥＥＥＳｔｄ７２９，其他引用標(biāo)準(zhǔn)均改為對應(yīng)的國家標(biāo)準(zhǔn)；
———增加了斷言的類型，并對每種斷言類型從結(jié)構(gòu)、語法等方面進行了介紹；
———增加了測試方法實現(xiàn)和測試方法規(guī)范對測試結(jié)果代碼的要求描述；
———增加了輪廓測試方法和宏方面的內(nèi)容；
———增加了用Ｃ 語言和Ａｄａ語言編寫斷言的示例。